引言
多重失效模式是指一个单元可能失效的不同方式。假设某批单元存在A、B、C三种失效模式,其观测到的失效时间对应于各潜在失效模式中最早发生的时间。该单元的可靠性模型可通过将A、B、C视为串联组件来构建。
本文阐述了针对具有多重失效模式产品的分析方法,并与忽略失效模式信息的分析进行对比。通过将各失效模式的可靠性以串联形式结合,可推导出产品的整体可靠性模型。
示例
本文所用数据集引自Meeker和Escobar的《可靠性数据的统计方法》(Statistical Methods for Reliability Data),研究对象为存在两种失效模式的电子元件:磨损失效(W)和电压浪涌失效(V)。

多重失效模式即单个部件可能发生的不同故障形式。
分析方法
若仅关注磨损失效(W),则因电压浪涌失效(V)的单元将被视为截尾数据(S);反之,若分析电压浪涌失效(V),因磨损失效(W)的单元则视为截尾数据(S)。
下表新增两列,分别标注针对目标失效模式的失效/截尾状态:

对三组数据均拟合威布尔分布,并将结果绘制在同一图表中。

- 蓝线与绿线分别表示电压浪涌(V)和磨损失效(W)的模型;
- 黑线为综合失效模式模型(忽略失效模式)。

通过综合失效模式曲线可得,该产品在*t*=5(千次循环)时的不可靠度为:
Q(5) = 0.027(见图1)⇒ R(5) = 0.973
由于该产品存在两种失效模式(V和W),需分别评估:
电压浪涌失效模式(V)的Q(5) = 0.048(见图1)⇒ R(5) = 0.952
对于由两个组件串联构成的系统,系统在任意时间*t*的可靠性始终低于任一单独组件的可靠性。因此,建议尽可能对失效模式(或组件)进行单独分析。
系统方程
完成各失效模式的独立分析后,系统级不可靠度Qₛ(t)可通过下式计算:
由 Rₛ(t) = Rₘ(t) × Rᵥ(t),
Qₛ(t) = 1 – [(1 – Qₘ(t)) × (1 – Qᵥ(t))]
Weibull-Toolbox RBD模块可将失效模式V和W视为串联组件,重构产品的可靠性模型。

基于系统方程Rₛ(t) = Rₘ(t) × Rᵥ(t),其他可靠性指标可通过以下公式导出:


读者可对比图4与图2中产品的不可靠度曲线。
系统的标准可靠性指标可通过内置计算器获取:

结论
本例展示了针对具有多重失效模式的不可修复产品的分析方法。通过串联系统方法重构产品可靠性,可更深入理解其可靠性行为。
但需注意,此类分析的前提是对每个失效组件均进行了失效模式诊断。
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